視覺質(zhì)量分析儀
KR-1W產(chǎn)簡介
Topcon 新推出的這款視覺質(zhì)量評估及診斷設(shè)備—KR-1W,突破了傳統(tǒng)驗(yàn)光儀器能測量低階像差,無法測量高階像差的障礙,擴(kuò)大了傳統(tǒng)驗(yàn)光儀器的運(yùn)用范圍,操作簡單便捷,能夠適應(yīng)很多需求的專業(yè)眼科診斷設(shè)備。
產(chǎn)特點(diǎn)
* 波像差、角膜地形圖、自動(dòng)角膜曲率、自動(dòng)驗(yàn)光、瞳孔測量五種功能合
* 為白內(nèi)障手術(shù)、屈光手術(shù)、人工晶體植入等制定治療方案
* 不可見光測量角膜地形圖,患者不受刺激,確保結(jié)果可靠
* 十余種分析圖像,提供角膜及內(nèi)眼的視力檢查及功能分析結(jié)果, 醫(yī)生可以客觀的為患者展示治療效果,提升患者滿意度
主要參數(shù)
KR-1W |
視力檢查參數(shù) | 球鏡范圍 | -25D~+22D |
柱鏡范圍 | 0D~±10D |
軸向范圍 | 0°~180° |
測量區(qū)域 | Ф8mm |
小測量瞳孔直徑 | Ф2mm |
角膜曲率檢查參數(shù) | 角膜曲率半徑 | 5.00mm~10.00mm |
角膜屈光 | 67.5D~33。75D |
角膜散光 | 0D~±10D |
角膜散光軸向 | 0°~180° |
測量角膜范圍 | Ф8mm~Ф9.2mm |
測量瞳距范圍 | 20~85mm |
波像差 | 可測量明暗適應(yīng)下波像差,可連續(xù)測量眨眼后的波像差,可測量眼內(nèi)、角膜及全眼的波像差?蓽y量PSF/MTF值。 | 測量點(diǎn) | 2609點(diǎn) |
測量原理 | Hartmann-shack 原理 |
角膜地形圖 | 測量環(huán) | 38環(huán) |
測量點(diǎn) | 13680點(diǎn) |
大測量直徑 | 11mm |
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更新時(shí)間:2024/11/12 13:40:42
經(jīng)營許可證號(hào):滬寶食藥監(jiān)械經(jīng)營許20220040號(hào)
標(biāo)簽:視力檢查 視覺質(zhì)量分析 驗(yàn)光儀